SWT系列專用探頭選項(xiàng)
用探針兼容和本體的自由組合連接可能。
根據(jù)測(cè)量對(duì)象，連接鐵質(zhì)地（電磁式）或有色金屬質(zhì)地（渦電流）。
◆微片條等的測(cè)量適合的高穩(wěn)定性探頭等，用途和測(cè)量范圍更探頭可供選擇。

■プローブ（別売）電磁誘導(dǎo)式

型式	Fe-2.5※ /Fe-2.5L	Fe-2.5LwA	Fe-0.6Pen	Fe-10	Fe-20
測(cè)定方式	電磁誘導(dǎo)式
測(cè)定範(fàn)囲	0～2.50mm		0～600μm	0～10mm	0～20mm
表示分解能	1μm： 0～999μm 切替により 0.1μm： 0～400μm 0.5μm： 400～500μm 0.01mm： 1.00～2.50mm		1μm： 0～600μm 切り替えにより 0.1μm： 0～400μm、 0.5μm：401～500μm	1μm： 0～999μm 0.01mm： 1～10mm	1μm： 0～999μm 0.01mm： 1～5mm 0.1mm： 5～20mm
測(cè)定精度 （平滑面に 対して）	0～100μm：±1μm または指示値の±2％以內(nèi) 101μm～2.50mm：±2％以內(nèi)		0～100μm：±1μm または指示値の±2%以內(nèi) 101μm～600μm：指示値の±2%以內(nèi)	0～3mm：±(5μm+指示値の3%) 3.01mm以上：±3％以內(nèi)
プローブ	１點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付 2.5:φ15×47mm 2.5L:18Ｘ22Ｘ58mm	１點(diǎn)定圧接觸式 測(cè)定部：約24×27X56mm 全長(zhǎng)約550～1,540mm（伸縮式）	１點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付 φ5.6×94mm	１點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付 φ18×47mm	１點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付 φ35×59mm
オプション※2	V型プローブアダプタ/---	---	---	---	---
付屬品	標(biāo)準(zhǔn)厚板 テスト用ゼロ板（鉄用）	標(biāo)準(zhǔn)厚板 テスト用ゼロ板（鉄用） 収納ケース	標(biāo)準(zhǔn)厚板 テスト用ゼロ板（鉄用）
測(cè)定対象	鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニング、溶射膜、メッキ（電解ニッケルメッキを除く）など	鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニングなど手の屆かない所、離れた所の塗膜厚測(cè)定用	鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニングなど狹い箇所、小さい部位の塗膜厚測(cè)定用	比較的厚物の測(cè)定物用	厚物の測(cè)定物用

※探針是耐熱用（約200℃）。詳細(xì)請(qǐng)咨詢。
※2選項(xiàng)：V型探針適配器（3種：φ5以下，5～10～10～20用）
■探針（另售）渦流式

型式	NFe-2.0※/NFe-2.0L	NFe-0.6	NFe-8
測(cè)定方式	渦電流式
測(cè)定範(fàn)囲	0～2.00mm	0～0.6mm	0～8mm
表示分解能	1μm： 0～999μm 切替により 0.1μm： 0～400μm 0.5μm： 400～500μm 0.01mm： 1.00～2.00mm	1μm： 0～600μm 切替により 0.1μm： 0～400μm 0.5μm： 400～500μm	1μm： 0～999μm 0.01mm： 1～8mm
測(cè)定精度 （平滑面に 対して）	0～100μm：±1μm または指示値の±2％以內(nèi) 101μm～2.00mm：±2％以內(nèi)	0～100μm：±1μm または指示値の±2％以內(nèi) 101μm～600μm：±2％以內(nèi)	0～3mm：±(5μm+指示値の3%) 3..01mm以上：指示値の±3％以內(nèi)
プローブ	１點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付 2.0:φ15×47mm 2.0L:18Ｘ22Ｘ57mm	１點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付 φ13×48mm	１點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付 φ35×61mm
オプション※2	V型プローブアダプタ/---	---	---
付屬品	標(biāo)準(zhǔn)厚板 テスト用ゼロ板（非鉄用）
測(cè)定対象	アルミ、銅などの非磁性金屬素地上の絶縁性皮膜など
	比較的汎用な測(cè)定物用	細(xì)い丸棒、細(xì)管、微小片等での高安定性用	比較的厚物の測(cè)定物用

※探針是耐熱用（約200℃）。詳細(xì)請(qǐng)咨詢。
※2選項(xiàng)：V型探針適配器（3種：φ5以下，5～10～10～20用）